鐵金屬材料的非磁性薄膜厚度測(cè)量技術(shù)

鐵金屬材料的非磁性薄膜厚度測(cè)量技術(shù)

便攜式膜厚儀QNIx系列的特點(diǎn)

無(wú)需薄膜校準(zhǔn)即可進(jìn)行精確的薄膜厚度測(cè)量

出廠時(shí)輸入 16 點(diǎn)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)即可交付。
這消除了繁瑣的薄膜校準(zhǔn)工作，并實(shí)現(xiàn)了精確的薄膜厚度測(cè)量。

薄膜厚度測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸新技術(shù)

在傳統(tǒng)的測(cè)量?jī)x器中，測(cè)量數(shù)據(jù)是通過(guò)用電纜連接儀器主體和個(gè)人計(jì)算機(jī)來(lái)傳輸?shù)摹?/font>QNIx 系列使用，只需將其插入 USB 端口即可進(jìn)行傳輸?？梢愿臁⒏p松地查看測(cè)量數(shù)據(jù)。

超輕量無(wú)線測(cè)量?jī)x

探頭測(cè)量的數(shù)據(jù)以無(wú)線方式傳輸?shù)街鳈C(jī)。與傳統(tǒng)產(chǎn)品一樣，它還降低了被電纜卡住、擋路和導(dǎo)致墜落事故的風(fēng)險(xiǎn)。此外，探頭重 30 克，超輕巧，因此您不必隨身攜帶沉重的儀器。

不易折斷且在被測(cè)物體上無(wú)痕跡的探頭

QNIx 系列探頭采用增強(qiáng)塑料包圍，可將耐用性提高 30%。即使發(fā)生故障，也很容易拆卸和維修，因此縮短了維修周期。此外，附有紅寶石前端，因此可以安全地進(jìn)行測(cè)量，而不會(huì)損壞待測(cè)物體（樣品）。

QNIx系列比較規(guī)格表

	QNIx 8500	QNIX 4500/4200	QNIx 7500	QNIX 驗(yàn)車(chē) 系統(tǒng)	QNIX Handy
可測(cè)量薄膜	[F] 鐵材料上的非磁性涂層 [N] 非鐵材料上的非磁性涂層 [FN] 鐵/非鐵材料上的非磁性/非導(dǎo)電涂層。			[FN]鐵和非鐵材料上的非磁性、非導(dǎo)電涂層。	[FN]鐵鋁材料上 的非磁性非導(dǎo)電 膜厚
材料識(shí)別	鐵和非鐵材料的 自動(dòng)識(shí)別交換	鐵和非鐵材料的自動(dòng)識(shí)別交換	用戶規(guī)定的轉(zhuǎn)換	鐵和非鐵材料的 自動(dòng)識(shí)別交換	鐵/非鐵，自動(dòng) 識(shí)別模式轉(zhuǎn)換
測(cè)量原理	[F] 磁通量（霍爾效應(yīng)） [N] 渦流
測(cè)量范圍	0 至 2,000 μm （選項(xiàng)：5,000 μm）	0 ~ 3,000 微米	0 至 2,000 μm （選項(xiàng)：5,000 μm）	0 ~ 5,000 微米	0～500微米
分辨率	0.1 μm、1 μm [M] 0.01 μm	1微米	0.1微米	0.1微米，1微米	5微米
配置格式	0點(diǎn)校正 用戶校準(zhǔn)：1 [M]100個(gè)	0點(diǎn)校正	0點(diǎn)校正	無(wú)校準(zhǔn)功能	無(wú)校準(zhǔn)功能
準(zhǔn)確性	± (1 μm + 2%) ± 3.5% (2 mm 或更大) [T] ± (0.3 μm + 2%)	± (2 微米 + 3%)	± (1 微米 + 3%)	± (1 μm + 2%) ± 3.5% (2 mm 或更大)	± (10 微米 + 5%)
測(cè)量速度	(約40次/分鐘) [T] 920ms (約65次/分鐘) [R] 1,600ms	600ms（約70次/分鐘）	1,300ms（約46次/分鐘）	1,500ms（約40次/分鐘）	600ms（約100次/分鐘）