半導(dǎo)體激光器和VCSEL等激光設(shè)備的發(fā)射特性檢測(cè)技術(shù)

發(fā)布日期：2023-04-19      瀏覽次數(shù)：663

半導(dǎo)體激光器和VCSEL等激光設(shè)備的發(fā)射特性檢測(cè)技術(shù)

用于高性能光學(xué)測(cè)量的光學(xué)系統(tǒng)（用于光照射和光接收測(cè)量的光學(xué)系統(tǒng)） M-Scope Type I 是一種高性能光學(xué)系統(tǒng)，設(shè)計(jì)用于多用途光學(xué)應(yīng)用測(cè)量，例如光照射、光接收測(cè)量和光束輪廓測(cè)量。 配備用于光學(xué)測(cè)量的光纖連接端口和用于圖像處理分析的圖像檢測(cè)器連接端口，可以使用同一光學(xué)系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)多個(gè)光學(xué)測(cè)量。 此外，可以根據(jù)目的添加各種光學(xué)測(cè)量組件，并且可以根據(jù)使用目的輕松構(gòu)建光學(xué)測(cè)量單元，例如測(cè)量目的，測(cè)量項(xiàng)目和測(cè)量觸覺。 光學(xué)系統(tǒng)可以根據(jù)測(cè)量目標(biāo)和測(cè)量波長選擇和安裝最合適的透鏡或反射鏡。 這使得在最佳光學(xué)條件下進(jìn)行各種測(cè)量成為可能。

它可以應(yīng)用于廣泛的領(lǐng)域和應(yīng)用，從光電探測(cè)器和傳感器的入射光測(cè)量，發(fā)光元件的光接收測(cè)量，光束輪廓測(cè)量等，到生物細(xì)胞的微光束照射。

用于高性能光學(xué)測(cè)量的光學(xué)系統(tǒng)包括標(biāo)準(zhǔn) M 型 I 型和偏振依賴性對(duì)策 M 型 I/PF 型。




產(chǎn)品特點(diǎn)

• 配備光纖連接端口，用于光學(xué)參數(shù)測(cè)量。 它可以以多種方式使用，例如使用光纖輸出型光源將測(cè)量光引入樣品，將測(cè)量光中繼到光纖以及使用光纖接收和測(cè)量光。

• 測(cè)量光照射測(cè)量

• 待測(cè)樣品的表面由來自測(cè)量光源的精確測(cè)量光照射。

• 測(cè)量光敏測(cè)量

• 從樣品中測(cè)量的光被中繼到光纖，以測(cè)量功率、波長和響應(yīng)等光學(xué)特性。

• 配備圖像檢測(cè)器連接端口。 光照射測(cè)量期間測(cè)量的光照射位置和光接收測(cè)量期間測(cè)量的光測(cè)量位置可以用同軸觀測(cè)相機(jī)直接觀察。 此外，還可以支持在光接收測(cè)量期間進(jìn)行光束輪廓測(cè)量。

• 它配備了同軸觀測(cè)相機(jī)端口。 當(dāng)測(cè)量光照射到樣品上時(shí)，通過同軸觀察照射位置，可以將測(cè)量光可靠地照射到樣品針點(diǎn)。 此外，當(dāng)接收來自樣品的光時(shí)，通過同軸觀察光接收測(cè)量位置，可以將來自測(cè)量目標(biāo)的光可靠地中繼到光纖。 此外，由于可以直接觀察到發(fā)光狀態(tài)，因此還可用于光束形狀測(cè)量應(yīng)用，例如光束輪廓測(cè)量。




產(chǎn)品主要用途

• 測(cè)量光照射測(cè)量

• 測(cè)量光電二極管的光靈敏度和光響應(yīng)特性

• 測(cè)量各種光學(xué)傳感器的光接收靈敏度

• 測(cè)量各種光波導(dǎo)上的光入射引起的插入損耗、傳播特性和連續(xù)性

• 光照射半導(dǎo)體器件的失效分析

• 生物醫(yī)學(xué)應(yīng)用，例如生物細(xì)胞的光照射

• 此外，通過用測(cè)量光照射各種顯微樣品來測(cè)量和分析光學(xué)特性

• 測(cè)量光敏測(cè)量

• 測(cè)量半導(dǎo)體激光器和VCSEL等激光設(shè)備的發(fā)射特性

• 測(cè)量從各種光波導(dǎo)接收到的光引起的插入損耗、傳播特性和連續(xù)性

• 通過測(cè)量各種發(fā)光設(shè)備的光接收來測(cè)量和分析光學(xué)特性

• 此外，通過測(cè)量各種發(fā)光樣品的光接收來測(cè)量和分析光學(xué)特性

• 在晶圓級(jí)測(cè)量和分析各種光半導(dǎo)體器件的光學(xué)特性

• 硅光子器件的研究與開發(fā)

• 光學(xué)模塊和透鏡模塊的裝配調(diào)整和質(zhì)量評(píng)估

• 此外，光照射/光接收測(cè)量，圖像測(cè)量，檢查，一般研究和開發(fā)