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更新日期：2025-03-11
簡要描述：
日本betterseishin粒子壓縮硬度測試儀MHT-1微型硬嵌套星MHT-1可以通過更改測量階段來調節(jié)40-400μm。*這是一種用于細顆粒的自動壓縮測試設備。當粒子用凹痕器施加載荷以確定壓碎強度時，該設備可測量峰負荷和粒徑。使用圖像數(shù)據(jù)和載荷解散曲線記錄了從壓縮到分解的過程。
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地 | 進口 |
|---|
日本betterseishin粒子壓縮硬度測試儀MHT-1
微型硬嵌套星MHT-1可以通過更改測量階段來調節(jié)40-400μm。*這是一種用于細顆粒的自動壓縮測試設備。當粒子用凹痕器施加載荷以確定壓碎強度時，該設備可測量峰負荷和粒徑。使用圖像數(shù)據(jù)和載荷解散曲線記錄了從壓縮到分解的過程。通過從測量結果中選擇任何粒子，您可以看到具有負載位移曲線和連續(xù)圖像的斷裂過程。
*根據(jù)規(guī)格，目標顆粒直徑可能為40-120μm或50-400μm。
對于粒子測量200-1500μm，可以使用 更好的硬度測試儀BHT-1000（全自動粉末和谷物壓縮測試儀） 。
日本betterseishin粒子壓縮硬度測試儀MHT-1
| 規(guī)范列表 | MHT-1 | MHT-1W（高分辨率） |
|---|---|---|
| 測量方法 | 恒定加載方法 | |
| 測量項目 | 高度顆粒直徑，峰負荷，位移，壓碎強度，破裂強度，變形強度 | |
| 靶顆粒直徑 | 50-400μm （手動測量1毫米） *需要階段變化 | 40-120μm |
| 下降速度 | 從1.0到10μm/sec中選擇 | 從0.01到10μm/sec |
| 測量的顆粒數(shù) | 每個樣品最多500片 | |
| 負載電池 測試能力 | 1N（最小顯示0.01MN） 也可以更改為5N，10N和20N （可選） | 1N（最小顯示0.01mn） 5N也可以更改 （可選） |
| 相機 | 從CMOS USB攝像機選擇： 480 x 270，130,000像素，640 x 360，230,000像素，960 x 540，520,000像素， 1920 x 1080，207億像素 | |
| 身體尺寸 | W450 x D460 x H400毫米 *包括突起 | |
| 體重 | 約25公斤 | 約26公斤 |
| 公用事業(yè) | AC100V 50/60Hz 2a | |
| 其他的 | 縮進器：φ0.45mm直徑直（前端表面處理） LED燈，防塵蓋，校準銅 | |
