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日本filmetrics對準自動膜厚測量系統(tǒng)F60 F60自動測繪膜厚測量系統(tǒng)是F50的高duan機型，具有缺口檢測、自動基線功能和互鎖機制。 只需將樣品放在載物臺上，然后單擊測量按鈕即可自動執(zhí)行對齊、基線和膜厚映射。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1520
日本filmetrics自動膜厚測量系統(tǒng)F50 F50自動測繪膜厚測量系統(tǒng)是將基于光學干涉原理的膜厚測量功能與自動高速載物臺相結(jié)合的系統(tǒng)。 以過去無法想象的速度測量點的膜厚和折射率。它支持從2英寸到450毫米的硅基板，并且可以任何測量點。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1975
F3-CS日本filmetrics臺式膜厚測量系統(tǒng) 測厚儀
日本filmetrics臺式膜厚測量系統(tǒng)F3-CS F3-CS是測量小樣品的測量系統(tǒng)。與測量臺集成的測量系統(tǒng)使其易于攜帶。 只需將樣品的測量面朝下放置在載物臺上即可進行測量，約1秒即可測量出膜厚和折射率。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1519
日本filmetrics板厚測量系統(tǒng)F3-sX 可以高精度測量硅基板和玻璃基板的厚度。 通過安裝初開發(fā)的具有高波長分辨率的光譜儀，可以測量高達 3 mm 的厚膜。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1507
F10-RT反射/透射/薄膜厚度測量系統(tǒng) 測厚儀
日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度測量系統(tǒng)F10-RT F10-RT 是一款集成了測量單元和測量臺的緊湊型臺式測量系統(tǒng)。可同時測量反射率和透射率，并可輕松分析膜厚、折射率和消光系數(shù)。 只需一根 USB 線和電源線即可輕松連接，無需調(diào)整光學系統(tǒng)，無需復(fù)雜的設(shè)置，而且設(shè)置非常簡單。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1381
日本filmetrics膜厚測量系統(tǒng)F20 一種行業(yè)標準、低價、多功能的臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)，已在安裝了 5,000 多臺。它可用于從研發(fā)到制造現(xiàn)場在線測量的廣泛應(yīng)用。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1785
日本電測densoku渦流膜厚儀DMC-211 高速和可操作性 短時間、無損測量是 99% 檢測的理想選擇 ?非破壞性測量和1秒內(nèi)100％檢查的理想選擇? 使用個人計算機輕松校準和測量操作? 只需將探頭放在待測物體上即可自動捕獲測量值 ?特性曲線（校準曲線）是標準 70 內(nèi)存 · 公司名稱、零件編號、批號為每個通道注冊
更新日期：2024-03-20 訪問量：1284
日本電測densoku電解膜厚儀CT-3 輕巧緊湊的機身 高操作性和功能性支持各種電鍍測量 ? 機身重量為 3.0 kg 的輕巧緊湊的機身 ? 可從任何電鍍范圍進行測量 ? 增加了高靈敏度范圍 ? ± 15% 的寬碳率范圍 ? C 墊片范圍標準設(shè)備
更新日期：2024-03-20 訪問量：1425
日本電測densoku電解式膜厚儀GCT-311 Windows 規(guī)格，全功能可實現(xiàn)多達 5 層的多層薄膜測量- 使用個人計算機提高可操作性和增強功能 - 使用 Windows 規(guī)格輕松處理數(shù)據(jù) -多可以注冊 50 個測量通道 - 可以為多層膜設(shè)置多 5 層的測量條件 - 當出現(xiàn)異常值時，測量值顯示在紅色報告中，并帶有顯示和警告聲
更新日期：2024-03-20 訪問量：1383
Fascope PMP10雙聯(lián)電磁式、渦流式、渦流相位式膜厚儀 測厚儀
日本fischer雙聯(lián)電磁式、渦流式、渦流相位式膜厚儀Fascope PMP10 PHASCOPE ® PMP10 DUPLEX 三種膜厚計：電磁式、渦流式、渦流相位式?？梢栽谝粋€測量過程中同時測量以鋼材為基材的復(fù)合膜（涂膜/鍍鋅膜）。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1260
日本fischer渦流相位薄膜測厚儀Facescope PMP10 PHASCOPE ® PMP10 這是渦流相位型膜厚計。適用于測量表面粗糙的薄膜、螺絲頭、小零件、通孔鍍銅等薄膜厚度。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1255
日本fischer高性能手持式薄膜測厚儀 FMP100 / H FMP150 DUALSCOPE ® FMP100 / H FMP150 高性能手持式膜厚計，適用于電磁型和渦流型（+ 磁型 H FMP150）。鐵質(zhì)防腐涂層、鋅層等涂膜、汽車車門等中空結(jié)構(gòu)件的涂膜可通過探頭同時測量。
更新日期：2024-03-20 訪問量：998
DUALSCOPE FMP20 / FMP40電磁/渦流手持式薄膜測厚儀
日本fischer電磁/渦流手持式薄膜測厚儀DUALSCOPE FMP20 / FMP40 DUALSCOPE ® FMP20 / FMP40 可在電磁式和渦流式之間自動切換的手持式薄膜厚度計。它可以測量大量基于鐵、鋼、鋁和銅等金屬的薄膜。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1119
Isoscope FMP10 / FMP30渦流型手持式膜厚儀 測厚儀
日本fischer 渦流型手持式膜厚儀Isoscope FMP10 / FMP30 ISOSCOPE ® FMP10 / FMP30 渦流型手持式膜厚計。渦流型 （DIN EN ISO 2360） 可用于測量由非磁性金屬（例如鋁和銅）、氧化鋁以及絕緣膜（例如鉻和化學鍍鎳（有條件））制成的鋁涂層。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1105
FMP10 / FMP30Deltascope 手持式電磁膜厚儀 測厚儀
日本fischer Deltascope 手持式電磁膜厚儀FMP10 / FMP30 DELTASCOPE ® FMP10 / FMP30 電磁手持式膜厚計。電磁型 （DIN EN ISO 2178） 可以測量非磁性薄膜，如鋅、鉻、銅、鍍鋅和基于磁性金屬（如鋼鐵）的涂層材料。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1116
